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Sonda RF para wafer ACP FormFactor (alta frecuencia)

El ACP Probe – Coaxial es un probador de alta precisión diseñado para aplicaciones educativas e industriales que requieren mediciones confiables y consistentes. Su diseño coaxial garantiza una excelente integridad de la señal, minimizando pérdidas y distorsiones en mediciones críticas. Este equipo ofrece compatibilidad con una amplia gama de instrumentos de prueba y permite realizar análisis detallados de señales eléctricas con facilidad y seguridad. Su construcción robusta y ergonómica lo hace ideal para laboratorios de enseñanza, desarrollo de proyectos y pruebas de prototipos, proporcionando resultados precisos en cada uso. Además, su configuración intuitiva facilita la integración en entornos de laboratorio, optimizando el tiempo y reduciendo la curva de aprendizaje para los usuarios.

Características

Permite trabajar con una amplia variedad de sustratos y obleas, facilitando pruebas en entornos educativos e industriales.

Minimiza interferencias y pérdidas de señal, asegurando mediciones precisas y confiables.

Reduce el efecto de carga en la señal medida, mejorando la exactitud de las pruebas eléctricas.

Su diseño manual y compacto permite un manejo fácil y seguro, optimizando la experiencia en laboratorios de enseñanza e investigación.

Aplicaciones

Para medir los S-parameters en Transistores de Alta Movilidad Electrónica (HEMT) utilizando las puntas FormFactor ACP40-GSG se realiza una calibración previa en el plano de las puntas mediante el método LRM utilizando una placa de sustrato de calibración para eliminar el error del Analizador de Redes Vectoriales (VNA). El procedimiento consiste en aterrizar el dispositivo mediante la configuración GSG (Ground-Signal-Ground), donde las puntas de masa exteriores flanquean la punta de señal central para minimizar la inductancia y el acoplamiento parásito a altas frecuencias. Una vez que las sondas de aire (ACP) hacen contacto estable sobre los pads del HEMT, se inyecta una señal de RF de baja potencia a través del puerto de compuerta y se mide la reflexión y transmisión en el drenaje, permitiendo al sistema extraer parámetros críticos como la ganancia de potencia y la frecuencia de corte en el rango de las microondas, asegurando una transición de impedancia suave de 50 ohms gracias al diseño coaxial de las puntas.

Para medir RF ICs en Amplificadores de Potencia (PA) se utiliza una configuración de alta integridad de señal que soporte tanto la potencia de salida como la frecuencia de operación sin deformaciones térmicas ni mecánicas. Se alinean las puntas en configuración Ground-Signal-Ground sobre los terminales de entrada y salida del chip; las puntas de la serie ACP están diseñadas específicamente para manejar niveles de potencia moderados con pérdidas de inserción mínimas, lo que permite medir parámetros como la P1dB , durante la prueba la robustez de la punta garantiza que el contacto no se degrade debido al calor generado por el amplificador, mientras que el diseño coaxial blindado asegura que las señales de RF de gran amplitud no se acoplen con las líneas de alimentación permitiendo una caracterización precisa de la linealidad y la ganancia en condiciones reales de carga.

Para medir dispositivos de mmWave en amplificadores de potencia se requiere una precisión en el contacto para evitar pérdidas por desajuste de impedancia a frecuencias superiores a los 30 GHz esto implica el uso de estas sondas de aire, las puntas ofrecen una excelente visibilidad y una transición coaxial-a-coplanar de muy baja pérdida, minimizando la radiación no deseada y el acoplamiento mutuo. Al realizar la medición, las puntas GSG deben de estar perfectamente niveladas sobre los pads del amplificador para asegurar que las conexiones de tierra (Ground) flanqueen la señal (Signal) de forma simétrica, reduciendo la inductancia que podría falsear los datos de ganancia y potencia a estas longitudes de onda tan corta ,garantiza que el sistema mantenga una estabilidad de fase superior durante los barridos de frecuencia, permitiendo capturar con fidelidad el comportamiento no lineal del dispositivo en el espectro de ondas milimétricas.

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