Keithley

2400 SERIES

Los instrumentos SourceMeter ofrecen soluciones de barrido que aceleran enormemente las pruebas con funciones de automatización para mejorar aún más el rendimiento. Esto es así tanto si se realizan barridos en transistores, como si se verifica simplemente la integridad de los conectores, se caracteriza el rendimiento de los dispositivos o prácticamente cualquier característica de voltaje-amperio de DC con alta precisión

2600B SERIES

Satisfaga todas sus necesidades de pruebas de producción con dos canales completamente aislados de fuente y medida dinámicas amplias en el mismo espacio. Cada canal de 40 W proporciona una resolución de precisión de 6½ dígitos para generar y medir desde pulsos de 10 A hasta 0,1 fA y de 200 V a 100 nV con un ancho de pulso de menos de 100 µs y dentro del 0,1 % del valor establecido.

2601B-PULSE SMU SERIES

El sistema de bucle de control del 2601B-PULSE elimina la necesidad de realizar ajustes manuales para cambios de carga de hasta 3 μH, lo que garantiza que el pulso no tenga sobre impulsos ni oscilaciones cuando se emitan pulsos de 10 μs a 500 μs a cualquier nivel de corriente de hasta 10 amperios.

2606B SMU Series

Unidad de mezcla semiautomática

Resolución de 6 1/2 dígitos
Fácil de apilar y colocar en estanterías.
Precisión de medida básica del 0,015 %
Conecte hasta 32 nodos TSP-Link o 64 canales SMU independientes

2650 SMU Series

Medidor de fuente de alta potencia Tektronix Keithley SMU 2650 Series.

Tecnología TSP
Bus de expansión de canal TSP-Link
Compatibilidad con controladores Python
Fuente o disipador de hasta 180W de CC

4200A-SCS Keithley

Analizador de parámetros de mayor rendimiento

Rango de voltaje y corriente continua (IV) 110 aA – 1A, 0,2 µV – 210 V
Reduce el tiempo desde la configuración hasta la ejecución
Cambia automáticamente entre mediciones IV y CV
Rango de capacitancia-Voltaje (CV) 1 kHz – 10 MHz, ± 30 V CC de polarización

6500 & 6430 Series Keithley

Simplifica la realización de pruebas de fugas, roturas y resistencia, así como mediciones de volumen (Ω-cm) y resistividad superficial (Ω/cuadrado) en materiales de alta resistividad.